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[轉發] 11/27~30 IEEE Asian Test Symposium 2017在台北
活動日期: 2017/11/27~2017/11/30
活動網址: http://ares.ee.ncu.edu.tw/ats17/ 
說明:

一年一度亞洲測試會議 IEEE Asian Test Symposium, 今年11月27~30日將於台北君品飯店舉行。 今年ATS除了有technical sessions外,還有以下亮點:

1)      兩個半天的tutorials講有關power-aware testing及 data-driven resiliency相關主題。

2)      三個keynotes及一個invited talk,其中

第一場keynote邀請到來自德國的國際知名學者Hans-Joachim Wunderlich,講題為The Revival of BIST: From Self-Test to Self-Healing

第二場keynote邀請到來自EDA大廠Synopsys的首席科學家及院士Yervant Zorian,講題為Addressing Automotive Safety Challenge & Solutions

第三場keynote邀請到來自EDA大廠Mentor Graphics的首席科學家Wu-Tung Cheng,講題為Volume Diagnosis

一場invited talk邀請來自TSMC的Shih-Lien Lu,講題為A Foundry’s View of Hardware Security


3)      兩個special sessions主題分別為”Hardware-Oriented Security and Trust”及”Test and Reliability of Emerging Memories”

 

以上這些內容均跟現今熱門主題AI、汽車電子息息相關,相信可以為大家帶來很大幫助。

另外,除了social program外,大會晚宴也會安排特別且非常精彩的表演。

請大家千萬別錯過! 敬邀各位先進能共襄盛舉,謝謝!

 

李進福

ATS 2017議程主席  敬邀